Placa de quartzo fundido com base redonda 101,6 mm de diâmetro 9 mm de espessura degrau 6,5 mm Inspeção óptica

A Placa de Vidro com Base Redonda é uma plataforma óptica sólida e espessa com um diâmetro de 101,6mm, uma espessura total de 9mm e uma espessura de degrau de 6,5mm, fabricada em borossilicato ou sílica fundida. A estrutura de degrau formada integralmente, combinada com o corpo espessado, oferece alta rigidez e desempenho anti-deformação, proporcionando uma base estável para equipamentos de inspeção óptica e gabaritos de precisão. Ambas as faces são retificadas e polidas com precisão, livres de bolhas, arranhões e cavidades, garantindo uma superfície de referência limpa e confiável. Com baixa expansão térmica, a placa resiste a choques térmicos e limpeza com ácido-alcalino, mantendo a estabilidade dimensional, tornando-a um componente de base confiável para aplicações exigentes de medição e inspeção.

• Estrutura sólida e espessa com alta rigidez: O corpo reforçado resiste à deformação e empenamento, mantendo a placa estável sob carga e uso repetido.
• Retificação e polimento de precisão em ambos os lados: A superfície livre de defeitos é isenta de bolhas, arranhões e cavidades, fornecendo um plano de referência óptico limpo.
• Degrau formado integralmente com tolerância apertada: A geometria escalonada é usinada com dimensões precisas, suportando montagem e posicionamento precisos.
• Baixa expansão térmica: O material resiste a choques térmicos e limpeza com ácido-alcalino, mantendo a geometria estável sob variação de temperatura.
• Borda externa chanfrada de precisão: A borda externa lisa e sem lascas protege as peças e os operadores durante o manuseio.

A Placa de Vidro com Base Redonda é projetada para aplicações ópticas, de medição e de semicondutores que exigem uma base rígida, estável e com dimensões precisas. É amplamente utilizada como base para equipamentos de inspeção óptica, fornecendo uma plataforma nivelada que mantém a geometria de medição consistente. No manuseio de semicondutores, a placa serve como um chassi de transporte de wafers, suportando wafers com segurança durante a inspeção e o processamento. O componente também funciona como uma placa de referência para instrumentos de medição óptica, oferecendo uma superfície plana verificada para calibração e comparação dimensional. Em sistemas de iluminação, funciona como uma base de homogeneização de luz que suporta a distribuição uniforme da luz. Adicionalmente, a placa é adotada como uma placa de base de posicionamento para gabaritos de precisão, garantindo a colocação precisa e repetível de peças em linhas de produção e teste automatizadas.

• Posicionamento preciso com design escalonado: A placa espessa com estrutura escalonada oferece alinhamento de montagem preciso e posicionamento estável da peça.
• Referência de detecção estável: A deformação térmica mínima mantém a geometria de referência estável em variações de temperatura, suportando medições consistentes.
• Personalização completa disponível: Fosqueamento em um lado, revestimento óptico, perfuração central e marcação de alinhamento podem ser adaptados aos requisitos do cliente.
• Alta consistência e precisão a longo prazo: A planicidade é mantida uniformemente em lotes de produção, e a precisão é preservada após limpeza repetida.